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紫外可見分光光度計UV752N,紫外光度計752N

更新時間：2025-01-02

型號：

752N

通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產品質量監督抽查首年檢測. 基本原理： ● 分光光度計分析法是基于不同分子結構的物質對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。

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紫外可見分光光度計UV752N,紫外光度計752N產品概述：

品牌：上海儀電分析儀器有限公司（原上海精科科學分析儀器廠）
名稱：紫外可見分光光度計
型號：UV752N

商品簡述：

通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產品質量監督抽查首年檢測.

基本原理：

● 分光光度計分析法是基于不同分子結構的物質對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。

● 應用電磁輻射波譜區通常在200nm～1000nm為紫外可見分光光度計。

● 采用微處理機控制技術，在紫外可見光譜區域內對物質作定性、定量分析，是常規實驗室*的多用途分析儀器。通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產品質量監督抽查首年檢測.

特點：
● 采用*全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優點。
● 超大屏幕帶背光液晶顯示器，測量數據一目瞭覽。
● 采用微機測量系統，T-A轉換精度高，并有自動調0%T和調100%T，濃度因子設定、濃度直讀。
● 測量讀數準確性高，重現性好和穩定性佳。
● 可選配串行打印機和與軟件UVWin7配合使用，拓展儀器的使用功能。
● UVWin7軟件包（另購）。

主要技術指標:
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長大允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min

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